Урок 7 Анализ цепи постоянного тока DC Sweep

Урок 7

Анализ цепи постоянного тока DC Sweep

В этом уроке рассказывается, как выполнять анализ цепи постоянного тока с различными изменяемыми переменными: источниками напряжения и постоянного тока, температурой компонентов, значениями сопротивления. Особое внимание уделено правилам проведения сдвоенного анализа.

Во втором уроке вы познакомились с обычным анализом цепи постоянного тока. При этом все конденсаторы рассматриваются как прерывания электрической цепи, все катушки индуктивности — как короткие замыкания. Нелинейные компоненты, например диоды или транзисторы, заменяются на их сопротивление постоянному току в рабочей точке. Созданная по такому принципу схема замещения содержит только одни активные сопротивления. Анализ цепи постоянного тока выявляет узловые потенциалы полученной схемы замещения.

В ходе анализа DC Sweep проводят целую серию простых анализов цепи постоянного тока, варьируя при этом с небольшими интервалами какую-нибудь одну величину схемы, например температуру или значение сопротивления определенного резистора. Программа PSPICE позволяет проводить анализ DC Sweep со следующими изменяемыми переменными:

• температура;

• параметры электрической цепи (например, сопротивления);

• источники напряжения;

• источники тока;

• модельные параметры.

Как видите, перед пользователем программы PSPICE открываются такие широкие возможности анализа схемы, какие не могли бы предложить даже прекрасно оснащенные лаборатории. Только вдумайтесь, какую экономию времени, сил и, разумеется, средств обещает перспектива провести, не отходя от компьютера и всего лишь за один сеанс работы, анализ рабочих характеристик транзисторной схемы в диапазоне температур от -70 °С до +150 °С. В прошлом инженерам-проектировщикам приходилось проводить целые серии дорогостоящих испытаний, чтобы выяснить, будет ли функционировать схема с транзисторами, у которых коэффициенты усиления по току имеют рассеяние больше, чем ±100%. Интерактивное моделирование проясняет такие вопросы с минимальными затратами.

Но и на этом возможности анализа цепи постоянного тока в PSPICE не исчерпываются. Одновременно с основным анализом (Main Sweep) можно также проводить так называемый «вложенный» (дополнительный) анализ (Nested Sweep) для еще одной изменяемой переменной. Это позволяет выводить на экран PROBE целые семейства кривых, например семейство выходных характеристик транзистора.